備受矚目的 「2024 半導體測試創新技術論壇」將於 5/15 新竹豐邑愛因斯坦 3F 國際會議廳登場,立即報名參與這場技術盛宴

2024 半導體測試創新技術論壇

Semiconductor Innovation Tech Day

活動資訊

活動內容

隨著數位轉型帶來的各種新興應用,以及半導體技術不斷地更新迭代,為半導體產業帶來前所未有的發展機會,身為半導體產業工程師的您,是協助打造更佳未來的重要推手,我們瞭解到您正面臨到前所未有的測試挑戰。

NI 國家儀器與其台灣代理商優立測科技特別為您打造「2024半導體測試創新技術論壇」,將與您分享最新的半導體技術趨勢,包含 6G、Wi-Fi 7、寬能隙半導體與矽光子,並與您一同探討創新的半導體測試與量測自動化解決方案,為您儲備最新測試新知以解決複雜的半導體技術挑戰。

本次活動包含八場精彩的議程,涵蓋半導體測試領域的關鍵主題,如新世代測試架構、行動通訊市場應用、半導體測試自動化、寬能隙功率半導體可靠度測試等。您將可於在現場實機展示區親身體驗多種半導體測試解決方案。誠摯邀請您加入我們,共享這場技術盛宴!


 

活動重點:

    • 最新2GHz 頻寬 VST3 實機應用展示: 以 Wi-Fi 7 與 UWB 測試為例
    • 快速建立半導體實驗室測試自動化的超實用指南
    • 寬能隙半導體最新可靠度測試概觀
    • 6G 與 NTN 新技術發展與市場動態
    • 嶄新 PXI 架構實現 PMIC 測試全覆蓋現場展示

活動時間/地點

  • 活動時間: 5/15 (三) 9:00AM~16:30PM
  • 活動地點: 新竹豐邑愛因斯坦大樓  3樓國際會議中心 (竹北市自強南路8號3樓)

適合對象

  • 半導體測試工程師、 Quality Assurance 工程師、 研發工程師,與Application Engineer,或對半導體測試趨勢與應用有興趣者皆歡迎參與。

活動議程

Time Content講師
09:00 ~ 09:30報到
09:30 ~ 09:35Welcome & OpeningNI 國家儀器
09:35 ~ 09:50新世代測試架構提升半導體測試效率,加快產品上市時間NI 國家儀器
09:50 ~ 10:40從零開始 - 30分鐘快速建立半導體測試自動化 (以 PMIC 為例)優立測科技
10:40 ~ 11:10剖析最新行動通訊市場應用與挑戰 - 6G & NTN NI 國家儀器
11:10 ~ 11:30中場休息
11:30 ~ 12:10揭密矽光元件特性與光電整合測試思衞科技
12:10 ~ 13:00午餐
13:00 ~ 13:40如何利用 PXI 架構實現 PMIC 測試全覆蓋 NI 國家儀器
13:40 ~ 14:20IC 測試工程開發案例分享: 一鍵完成 ATE 級 DFT 與數位通訊協定驗證的新利器優立測科技
14:20 ~ 14:50中場休息
14:50 ~ 15:30探討寬能隙功率半導體可靠度測試 - 測試規範探討與實踐 NI 國家儀器
15:30 ~ 16:20WiFi-7 無線寬頻通訊測試挑戰解決之道與儀器選擇指南 NI 國家儀器
16:20 ~ 16:30Q & A 與會後交流 NI 國家儀器 / 優立測科技
(主辦單位保有最後修改議程之權利,最終議程將以網站公佈內容為主)

本活動報名已經截止,若您有任何疑問或需求,
請您聯繫我們: mkt@ultest-tech.com,謝謝!

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