優立測科技為 NI 國家儀器台灣教育訓練合作夥伴,專注提供專業的技術培訓,幫助學員掌握並運用 NI 的先進技術與工具,提升在測試、量測、數據分析、高效控制解決方案等領域的專業知識與技能,協助您縮短專案開發時間與提升效率。授課課程為 NI 官方教育訓練課程,並由原廠認證的講師實體授課。
標準課程涵蓋 LabVIEW、FPGA、TestStand、DAQ 資料擷取技術、HIL 驗證測試等多個工具與應用領域,從基礎課程到進階專題課程,全面提升專業能力。
由專業講師親自授課,學員可在課堂中與講師面對面互動。課程結合理論及實作,有效提升實作能力。除實體教室外,亦提供到廠教育訓練作為彈性選擇。
參與課程後,學員可選擇參加官方認證考試(如Certified LabVIEW Associate Developer等認證),取得業界認可的專業資格,為職涯發展增添競爭力。
NI 教育訓練課程幫助學員快速上手產品與技術,提升工作效率,啟發創新思維,提升綜合技術能力,NI 的課程都是您技術成長的重要夥伴。
日期 | 實體課程 | 天數 | 時間 |
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1/07 – 1/09 | HIL Fundamentals Using VeriStand | 3 | 09:30 – 17:30 |
2/11 – 2/13 | LabVIEW Core 1 | 3 | 09:30 – 17:30 |
3/04 – 3/05 | LabVIEW Core 2 | 2 | 09:30 – 17:30 |
3/11 – 3/14 | Developing Embedded Applications using CompactRIO and LabVIEW Real-Time | 4 | 09:30 – 17:30 |
3/25 – 3/27 | Object-Oriented Design and Programming in LabVIEW | 3 | 09:30 – 17:30 |
4/08 – 4/10 | Developing Embedded Applications using CompactRIO and LabVIEW FPGA | 3 | 09:30 – 17:30 |
4/22 – 4/24 | LabVIEW Core 3 | 3 | 09:30 – 17:30 |
5/13 – 5/15 | Developing Test Programs Using TestStand | 3 | 09:30 – 17:30 |
5/27 – 5/28 | Data Acquisition Using NI-DAQmx and LabVIEW | 2 | 09:30 – 17:30 |
6/10 – 6/12 | Exploring Data Interactively Using DIAdem | 3 | 09:30 – 17:30 |
6/24 – 6/25 | Architecting Test Systems Using TestStand | 2 | 09:30 – 17:30 |
日期 | 線上課程 | 天數 | 時間 |
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3/17 – 3/20 | Exploring Data Interactively Using DIAdem | 4 | 13:00 - 18:30 |
3/31 – 4/04 | LabVIEW Core 1 | 5 | 13:00 - 18:30 |
4/14 – 4/16 | LabVIEW Core 2 | 3 | 13:00 - 18:30 |
4/21 – 4/24 | Object-Oriented Design and Programming in LabVIEW | 4 | 13:00 - 18:30 |
5/19 – 5/22 | Actor-Oriented Design in LabVIEW | 4 | 13:00 - 18:30 |
地址 : 臺北市大安區忠孝東路 4 段 270 號 14 樓之 2 (捷運國父紀念館 2 號出口附近)
1. LabVIEW 新功能搶先展示與體驗區
2. 賦予設備差異化與高效量測控制的關鍵核心 : CompactRIO
3. 高彈性模組化 PCB 測試儀器: TestScale
4. PXI SMU 實現超高速 I-V 曲線量測
面對高速與高精度製程和檢測機台的挑戰,PXI 平台提供高度整合、可擴充的工具,支援多種模組與跨儀器同步操作,尤其適合製程與測試設備的開發與應用需求。本演講將通過實例展示 PXI 平台在 IC 測試、光電元件 IV 曲線、被動元件測試與半導體檢測等領域的應用價值,助力設備商在高價值市場中實現產品差異化,打造獨特競爭力。
深入了解 NI 如何提供尖端軟硬體解決方案,全方位支援 OEM 設備機台製造商。NI 的平台設計讓您能加速開發產品、降低開發成本,同時集中資源於創新。
透過彈性定價、軟硬體方案多樣化組合、免費技術支援及市場推廣協助,N I幫助設備製造商在技術升級與差異化方面保持競爭優勢,加速推出卓越的產品並提升市場價值。
PC based 架構機台漸成主流,工業控制機台的軟硬體整合更加緊密,Low Code / No Code 成為機器視覺開發的重要方向,AI的導入更是讓光學檢測踏入新紀元。本場演講將帶您從零開始建立光學檢測系統,包含相機選擇、視覺辨識、AI模型整合等,實現自主開發能力,使專案團隊無須高度專業背景即可輕鬆進行視覺檢測應用。
NI 高速資料擷取平台提供 PC 架構與嵌入式系統兩大類型,專為實現高效能的精密量測和控制而設計,能夠滿足設備機台製造商的多樣需求。高精度量測可確保監控系統的準確性,達到精確的環境參數控制。
對於高速控制應用,NI 的高速資料擷取平台展現了優越的控制性能,可在微秒級的時間內執行控制迴路,高速資料回饋可精準掌控設備位置與動作,有效減少誤差,提升產品品質。
NI 的高速資料擷取技術不僅提升了系統穩定性,更有效支援多重應用,為設備機台製造商提供強大且靈活的解決方案。
1. NI 最新 USB 多功能資料擷取平台 / 優立測科技
2. 高彈性模組化 PCB 測試儀器: NI TestScale / 優立測科技
3. GECO 控制器及支援模組 / 星協系統科技
4. 盲聲源定位系統 / 翔和科技
5. 超寬頻毫米波量產測試解決方案 / 稜研科技
*展示主題依場次有所不同,以活動現場展示內容為主
隨著 chatGPT 帶領生成式 AI 時代來臨,與 AI 應用結合已經變成各個行業不可或缺的一部分,自動化測試與量測也不例外。本演講我們將探討 LabVIEW 與測試量測硬體之 AI 結合新應用。
我們將介紹 LabVIEW 今年的新功能,並展示如何通過 LabVIEW+ 軟體組合,構建智慧測試流程,並且闡述 LabVIEW 與 AI 新趨勢的結合。這些工具的結合將顯著提升測試效率、測試開發時間與資料處理能力,實現更高的量測效能。
演講中,我們將進行實際演示,包括 LabVIEW 新功能、AI 結合展示以及第三方 AI Vision 工具包在測試中的應用。相信這些創新技術將為您的自動化量測應用帶來革命性的變革,期待各位的參與和交流。
隨著消費性電子與半導體技術更迭日新月異,對於測試的通道數/速度/整合性的要求也日漸增加,讓傳統測試平台與技術面臨全新挑戰,需要更智慧的量測系統。
NI 推出全新測試量測硬體平台,更高精度、更易使用、更小體積,助力使用者開發自動化量測系統。搭配現有的 DAQ & PXI 平台,不論是高通道數/高速/高精度/整合的測試系統皆可輕鬆完成。
本演講除了新產品與平台的介紹,更會展示配合的新軟體 InstrumentStudio & Flexlogger,讓使用者可以體驗全新互動式量測方式,不用寫程式就能輕鬆完成自動化設定與量測,一鍵紀錄量測結果。
近幾年人工智慧蓬勃發展,這波強勁的需求,直接推動了半導體、電動車、國防航太、防災及製造產業的發展。迎接這一波挑戰,除了加緊開發新方案應對之外,對既有系統進行改進、擴充跟智慧化升級,也變成一個很迫切的課題。本演講將快速介紹 FPGA 原理及可以運用的 RIO 工具,再從各個應用案例切入進行優勢的剖析,最後介紹 FPGA 客製化方案及評估方法。期待能帶給大家不同的系統性思考方式。
PC based 機台漸成主流,帶動工業控制機台的軟硬體進一步整合,Low Code/No code 成為機器視覺開發的重要方向。
本演講精彩內容帶您瞭解互動式可視化/自動化影像處理與分析工具,並一鍵轉換生成完整 LabVIWE / C 程式原始碼。藉由 NI Vision與自動化控制技術結合,可輕易實踐影像擷取/影像讀存/影像處理/影像分析計算,與整合其他自動化儀器量測與控制方法,讓自動化工業機台檢測與量測變得更加容易。
NI 身為軟體為核心的測試與量測公司,藉由主要的軟體平台 LabVIEW 與其他軟硬體的結合,打造新世代的測試與量測系統。藉由廣泛的生態系夥伴的支援與合作,讓使用者能夠更迅速上手並整合至不同的自動化測試與量測應用。
隨著6G R19於2024年開始進行規劃,需求與技術即將開始熱烈討論。本演講將闡述頻寬、頻段、覆蓋、低延遲等特性之創新,以及6G & 非地面通訊技術的應用。同時,我們也將探討在測試過程中可能遭遇的挑戰,以及NI相關解決方案,讓您深入了解未來行動通訊的趨勢與發展方向。