Test Scale Mainframe
Test Scale 框架模組
TestScale 專為您的功能測試需求所設計,提供了一個簡化的整合式系統背板,此背板具備 USB 連接功能,5 個插槽可用來混合與搭配 I/O 以適應各種應用需求,還有一個專為所需核心模組保留的插槽。背板提供兩種版本,可安裝至機架或固定裝置上,滿足任何應用程式的部署需求
Test Scale 框架模組
機架式 TestScale 背板模組:
- TS-15010 具有 USB 連接功能,包括五個插槽,工程師可以使用這些插槽將模組添加到夾具底座中的 TestScale 系統。背板為可程式化電源和 I/O 模組等模組提供通訊與訊號支援。此外,TS-15010 支援透過標準 37 針腳 D-SUB 和 USB 進行連接,用來與工業級 PC 進行通訊,使用者需要為核心模組預留一個插槽。
夾具式 TestScale 背板模組:
- TS-15000 具有 USB 連接功能,包括五個插槽,工程師將模組添加到機架內的 TestScale 系統中。背板為可程式化電源和 I/O 模組等模組提供通訊與訊號支援。此外,TS-15000 支援透過標準 37 針腳 D-SUB 和 USB 進行連接,用來與工業級 PC 進行通訊,使用者需要為核心模組預留一個插槽。
TestScale 核心模組:
- TS-15050 用來支援 TestScale 系統的基本功能。TS-15050 具有八個數位 I/O 通道,工程師也可以在模組上設定三種模式:8 個數位輸入、8 個數位輸出,或 4 個數位輸入與 4 個數位輸出。此模組是 TestScale 背板的必需配件,必須安裝在其專用插槽中。
單通道、6 V、3 A、18 W TestScale 電源模組:
- TS-15200 可透過單象限通道供應可程式化的直流電源,並具有 ±30 V 的保護電壓限制功能,模組適用於電子功能測試相關應用。該模組具有一個廣範電流和電壓的可程式化電源範圍、並具備閉迴路和過電壓、過電流和過熱保護功能。該模組還可以支援常見的 Linux 桌上型作業系統部署,或是與 TestStand、LabVIEW 和 SystemLink 等 NI 軟體進行整合。此外,TS-15200 包含 NI-DAQ™mx 驅動程式,其中包含範例程式碼,並支援常見語言,如 Python、C/C++、.NET,與LabVIEW 等。
1. NI 最新 USB 多功能資料擷取平台 / 優立測科技
2. 高彈性模組化 PCB 測試儀器: NI TestScale / 優立測科技
3. GECO 控制器及支援模組 / 星協系統科技
4. 盲聲源定位系統 / 翔和科技
5. 超寬頻毫米波量產測試解決方案 / 稜研科技
*展示主題依場次有所不同,以活動現場展示內容為主
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我們將介紹 LabVIEW 今年的新功能,並展示如何通過 LabVIEW+ 軟體組合,構建智慧測試流程,並且闡述 LabVIEW 與 AI 新趨勢的結合。這些工具的結合將顯著提升測試效率、測試開發時間與資料處理能力,實現更高的量測效能。
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本演講除了新產品與平台的介紹,更會展示配合的新軟體 InstrumentStudio & Flexlogger,讓使用者可以體驗全新互動式量測方式,不用寫程式就能輕鬆完成自動化設定與量測,一鍵紀錄量測結果。
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隨著6G R19於2024年開始進行規劃,需求與技術即將開始熱烈討論。本演講將闡述頻寬、頻段、覆蓋、低延遲等特性之創新,以及6G & 非地面通訊技術的應用。同時,我們也將探討在測試過程中可能遭遇的挑戰,以及NI相關解決方案,讓您深入了解未來行動通訊的趨勢與發展方向。