Test Scale Digital I/O

Test Scale 數位模組

NI 根據高效能與可靠性標準建置一系列 TestScale 量測 I/O 與電源模組，所有模組配備標準的 37 針腳 D-Sub 連接功能，可滿足您各種測試範圍的要求。 I/O 產品包含常見之類比輸入與輸出、以及計數器/計時器功能等常見 I/O，有助於降低複雜度，並滿足多種應用需求。

庫存單位 3.3.2.7.3 分類 標籤 , , , , , ,

Test Scale 數位模組

TS-15120 數位輸出入模組：

  • 32 通道、5 V / 3.3V (TTL訊號格式)
  • 提供雙向數位電壓訊號輸出輸入功能，並具有兩個可選之 TLL 邏輯層級
  • 此模組適用於 TTL I/O，基本 LED、按鈕和開路/短路測試，事件計數器，脈衝調變等量測或控制內容
  • 此模組支援常見 Windows/ Linux 作業系統與 TestStand、LabVIEW 和 SystemLink 等 NI 軟體的整合
  • 使用 NI-DAQmx 驅動程式，其中包含範例程式與 Python、C/C++、.NET 和 LabVIEW 等常用開發語言的 API 支援

TS-15130 數位輸出模組：

  • 32 通道、60 VDC 數位訊號輸出模組
  • 專為電氣功能測試應用提供輸出電壓訊號產生功能，可為不同類型的訊號產生可程式化電壓輸出
  • 可使用此模組產生高壓汲極電流數位輸出，電壓輸出準位由 I/O 接頭上的 VAUX 輸入判斷
  • 該模組支援常見 Windows/ Linux 作業系統與 TestStand、LabVIEW 和 SystemLink 等 NI 軟體的整合
  • 使用 NI-DAQmx 驅動程式，其中包含範例程式與 Python、C/C++、.NET 和 LabVIEW 等常用開發語言的 API 支援