Test Scale Analog Input
Test Scale 類比模組
NI 根據高效能與可靠性標準建置一系列 TestScale 量測 I/O 與電源模組，所有模組配備標準的 37 針腳 D-Sub 連接功能，可滿足您各種測試範圍的要求。 I/O 產品包含常見之類比輸入與輸出、以及計數器/計時器功能等常見 I/O，有助於降低複雜度，並滿足多種應用需求。
Test Scale 類比模組
TS-15100 類比輸入模組：
- 16 位元、32 通道、250 KS/s 單端或差動類比輸入電壓訊號量測
- 可程式化輸入範圍選擇 ±10 V、±5 V、±1 V 和 ±0.2 V，最大化量測精度
- ±30 V Ch-COM 通道對通道隔離保護
- 該模組支援常見 Windows/ Linux 作業系統與 TestStand、LabVIEW 和 SystemLink 等 NI 軟體的整合
- 使用 NI-DAQmx 驅動程式，其中包含範例程式與 Python、C/C++、.NET 和 LabVIEW 等常用開發語言的 API 支援
TS-15110 類比輸出模組：
- 16 位元、4 通道、100 KS/s 可程式電壓與波型輸出模組
- 每個通道上 100 kS/s 的可同步電壓輸出
- ±30 V Ch-COM 通道對通道隔離保護
- 該模組支援常見 Windows/ Linux 作業系統與 TestStand、LabVIEW 和 SystemLink 等 NI 軟體的整合
- 使用 NI-DAQmx 驅動程式，其中包含範例程式與 Python、C/C++、.NET 和 LabVIEW 等常用開發語言的 API 支援
