OptimalPlus 會收集、清理及分析源於多個製造與企業資料來源的資料，每年針對超過 1000 億台裝置的每一個產品生命週期階段進行優化。

建立統一且方便使用的資料來源：

使用 OptimalPlus GO 即可連結貫通多個系統的產品資料。
建立一致且人人都能方便使用的資料模型。
建構控制介面並監控所有產品階段的資料。
能銜接從測試機到企業資源規劃 (ERP) 系統等，數千個不同的資料來源。
支援 90% 的委外封裝測試代工廠 (OSAT)。

運用進階分析提高產品良率，支援人工智慧和機器學習，找出不易發掘的精闢分析：

盡可能讓不同的據點之間保持一致。
優化並排列重測原則的優先順序。
減少廢品並避免浪費。
即時察覺設備效能問題。
能讓半導體良率提升 2% 。

避免不良產品流入市場，保障產品品質與一致性：

深入分析不連貫的供應鏈。
進行供應商基準量測並比較良率結果。
即時收到品質警示並加速分析根本原因。
集中控制規則並推送至分散的測試機群。
最多能降低 50% 的品質疏失。

降低測試方面的資本支出，發揮測試機最大使用率：

解決測試機使用率不一致的問題
察覺並儘量避免測試時間差異