SLSC
SLSC 平台
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1. NI 最新 USB 多功能資料擷取平台 / 優立測科技
2. 高彈性模組化 PCB 測試儀器: NI TestScale / 優立測科技
3. GECO 控制器及支援模組 / 星協系統科技
4. 盲聲源定位系統 / 翔和科技
5. 超寬頻毫米波量產測試解決方案 / 稜研科技
*展示主題依場次有所不同,以活動現場展示內容為主
隨著 chatGPT 帶領生成式 AI 時代來臨,與 AI 應用結合已經變成各個行業不可或缺的一部分,自動化測試與量測也不例外。本演講我們將探討 LabVIEW 與測試量測硬體之 AI 結合新應用。
我們將介紹 LabVIEW 今年的新功能,並展示如何通過 LabVIEW+ 軟體組合,構建智慧測試流程,並且闡述 LabVIEW 與 AI 新趨勢的結合。這些工具的結合將顯著提升測試效率、測試開發時間與資料處理能力,實現更高的量測效能。
演講中,我們將進行實際演示,包括 LabVIEW 新功能、AI 結合展示以及第三方 AI Vision 工具包在測試中的應用。相信這些創新技術將為您的自動化量測應用帶來革命性的變革,期待各位的參與和交流。
隨著消費性電子與半導體技術更迭日新月異,對於測試的通道數/速度/整合性的要求也日漸增加,讓傳統測試平台與技術面臨全新挑戰,需要更智慧的量測系統。
NI 推出全新測試量測硬體平台,更高精度、更易使用、更小體積,助力使用者開發自動化量測系統。搭配現有的 DAQ & PXI 平台,不論是高通道數/高速/高精度/整合的測試系統皆可輕鬆完成。
本演講除了新產品與平台的介紹,更會展示配合的新軟體 InstrumentStudio & Flexlogger,讓使用者可以體驗全新互動式量測方式,不用寫程式就能輕鬆完成自動化設定與量測,一鍵紀錄量測結果。
近幾年人工智慧蓬勃發展,這波強勁的需求,直接推動了半導體、電動車、國防航太、防災及製造產業的發展。迎接這一波挑戰,除了加緊開發新方案應對之外,對既有系統進行改進、擴充跟智慧化升級,也變成一個很迫切的課題。本演講將快速介紹 FPGA 原理及可以運用的 RIO 工具,再從各個應用案例切入進行優勢的剖析,最後介紹 FPGA 客製化方案及評估方法。期待能帶給大家不同的系統性思考方式。
PC based 機台漸成主流,帶動工業控制機台的軟硬體進一步整合,Low Code/No code 成為機器視覺開發的重要方向。
本演講精彩內容帶您瞭解互動式可視化/自動化影像處理與分析工具,並一鍵轉換生成完整 LabVIWE / C 程式原始碼。藉由 NI Vision與自動化控制技術結合,可輕易實踐影像擷取/影像讀存/影像處理/影像分析計算,與整合其他自動化儀器量測與控制方法,讓自動化工業機台檢測與量測變得更加容易。
NI 身為軟體為核心的測試與量測公司,藉由主要的軟體平台 LabVIEW 與其他軟硬體的結合,打造新世代的測試與量測系統。藉由廣泛的生態系夥伴的支援與合作,讓使用者能夠更迅速上手並整合至不同的自動化測試與量測應用。
隨著6G R19於2024年開始進行規劃,需求與技術即將開始熱烈討論。本演講將闡述頻寬、頻段、覆蓋、低延遲等特性之創新,以及6G & 非地面通訊技術的應用。同時,我們也將探討在測試過程中可能遭遇的挑戰,以及NI相關解決方案,讓您深入了解未來行動通訊的趨勢與發展方向。