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FlexRIO 平台
客製化儀器/訊號處理模組
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射頻儀器模組
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通用儀器模組
單機型量測應用產品
工程教育產品
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在電動車、精密機械與家電產品的製造中，振動、噪音與聲振粗糙度 (NVH) 是衡量產品品質的關鍵密碼。本場演講將闡述如何利用 NI cDAQ 平台的高性能，實現 NVH 振動異音的快速、精準檢測，並透過 AI 技術加速診斷。
本演講將首先介紹 cDAQ 平台與動態訊號量測的 DSA 模組，其同步性和高動態範圍，是精確捕捉微弱異音的基礎。接著，深入探討 NVH 在實際應用中的挑戰與實務檢測流程。
最後，AI NVH 檢測系統將是本場的亮點：我們將展示如何運用 AI 模型，自動辨識傳統方法難以捕捉的異音。這套系統能大幅縮短檢測時間，提升產品良率，是實現產品品質智慧化的關鍵升級方案。
傳統人工檢測效率低、標準難以統一，已成為工業生產瓶頸。本次演講將為您揭示如何透過強大的整合方案，徹底擺脫人工檢測的困境。
我們將深入探討如何運用 NI Vision 的基礎優勢，搭配 AINavi Toolkit 的視覺 AI 快速佈署能力，實現高精度的 AI 光學檢測（AOI），並且帶來現場實機展示。
更重要的是，我們將介紹突破性的 OCR 解決方案，以及如何利用 Edgestar 地端大語言模型（LLM）部署方案，將最新的 AI 智慧應用安全、高效地落地於工業邊緣端。這不僅是工具的結合，更是構建地端 AI 模型智慧化生產線的萬能鑰匙，助您大幅提升產品品質與生產效率。
面對大量高速資料擷取（DAQ）的工業現場，如何從海量波形中即時辨識出細微的異常？
本演講將介紹優立測如何整合 Deep Learning Toolkit 於 cRIO 平台。我們將展示如何利用 cRIO 的高速 DAQ 能力採集波形，並在嵌入式端運行優化的深度學習模型，實現對異常波形的即時監測與預警。
這項技術能夠將傳統耗時的人工分析轉變為自動化的智慧診斷，大幅提升設備的稼動率並減少非預期的停機損失。
專業級無人機平台的真正價值在於其開發彈性。本演講將演示 NI LabVIEW 的圖形化程式設計環境，結合 sbRIO 的模組化嵌入式架構，如何戲劇性地縮短客戶在整合自定義酬載、進階感測器或應用專屬 AI 演算法的開發週期。
我們將分享如何利用 LabVIEW 的強大生態系統，快速地將概念轉化為可飛行的解決方案，讓研究人員與系統整合商能夠將資源集中於創新本身，而非底層的飛控開發。
NI RIO 平台的獨特價值在於其 FPGA/Real-Time (RT) 的異質運算架構。
本場演講將深入剖析這兩種核心如何協同工作：FPGA 確保毫秒級的確定性控制與高速資料擷取，而 RT 處理器則負責執行高階控制邏輯、邊緣運算演算法與 AI 模型、網路通訊及檔案管理。
了解這種架構如何為您提供超越傳統 PLC 的效能、靈活性和穩定性，是您打造最嚴苛工業級應用的關鍵。
在工程流程中，報表往往最花時間卻最少價值創造。演講中將介紹 DIAdem 如何整合不同資料來源，能協助自動化繪圖、資料同步與不同格式報表輸出，從原始資料到圖文報告一鍵完成。支援 HTML/PDF 輸出，提升工程效率與一致性。
NI 推出全新世代 DAQ 平台，支援 USB Type C、高密度通道、模組快拆與同步處理，大幅簡化佈建流程與量測設備管理。還能搭配 FieldDAQ 面對極端現場環境，以及 FlexLogger 插件實現無程式開發應用，讓量測流程更穩定、彈性、精準。
當 AI 助手已成為工作與生活的一部分的世代， NI 當然也不能缺席。透過 LabVIEW 與 TestStand 的自動化整合範例與實作，展示自動化測試流程如何導入 AI 助手 Nigel ，協助生成測試邏輯、排程控制與自動除錯和查詢。並介紹新版 LabVIEW 的實用新功能。
功耗與熱管理已成為 AI 設備與伺服系統的關鍵測試指標。演講中將展示如何透過 NI DAQ 搭配多通道電流/電壓量測模組，建構晶片級功耗監控系統，並延伸到使用 cRIO 監控資料中心 PDU 與 Rack 供電表現，以及伺服系統的散熱量測。涵蓋從 Lab 到 Field 的完整量測範疇。
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本場演講說明如何運用 LabVIEW+ Suite 擴大測試範圍及縮短開發時程。LabVIEW+ Suite 集結 NI 測試軟體的精華，能將工作流程的每一個環節最佳化，讓工程師更省時間。各款軟體均具備加速測試作業的特色與功能。在驗證與測試作業中，LabVIEW+ Suite 能協助您設定、顯示及自動化處理量測、分析資料以及分享報表的流程。
1. LabVIEW 新功能搶先展示與體驗區
2. 賦予設備差異化與高效量測控制的關鍵核心 : CompactRIO
3. 高彈性模組化 PCB 測試儀器: TestScale
4. PXI SMU 實現超高速 I-V 曲線量測
面對高速與高精度製程和檢測機台的挑戰，PXI 平台提供高度整合、可擴充的工具，支援多種模組與跨儀器同步操作，尤其適合製程與測試設備的開發與應用需求。本演講將通過實例展示 PXI 平台在 IC 測試、光電元件 IV 曲線、被動元件測試與半導體檢測等領域的應用價值，助力設備商在高價值市場中實現產品差異化，打造獨特競爭力。
深入了解 NI 如何提供尖端軟硬體解決方案，全方位支援 OEM 設備機台製造商。NI 的平台設計讓您能加速開發產品、降低開發成本，同時集中資源於創新。
透過彈性定價、軟硬體方案多樣化組合、免費技術支援及市場推廣協助，N I幫助設備製造商在技術升級與差異化方面保持競爭優勢，加速推出卓越的產品並提升市場價值。
PC based 架構機台漸成主流，工業控制機台的軟硬體整合更加緊密，Low Code / No Code 成為機器視覺開發的重要方向，AI的導入更是讓光學檢測踏入新紀元。本場演講將帶您從零開始建立光學檢測系統，包含相機選擇、視覺辨識、AI模型整合等，實現自主開發能力，使專案團隊無須高度專業背景即可輕鬆進行視覺檢測應用。
NI 高速資料擷取平台提供 PC 架構與嵌入式系統兩大類型，專為實現高效能的精密量測和控制而設計，能夠滿足設備機台製造商的多樣需求。高精度量測可確保監控系統的準確性，達到精確的環境參數控制。
對於高速控制應用，NI 的高速資料擷取平台展現了優越的控制性能，可在微秒級的時間內執行控制迴路，高速資料回饋可精準掌控設備位置與動作，有效減少誤差，提升產品品質。
NI 的高速資料擷取技術不僅提升了系統穩定性，更有效支援多重應用，為設備機台製造商提供強大且靈活的解決方案。
1. NI 最新 USB 多功能資料擷取平台 / 優立測科技
2. 高彈性模組化 PCB 測試儀器: NI TestScale / 優立測科技
3. GECO 控制器及支援模組 / 星協系統科技
4. 盲聲源定位系統 / 翔和科技
5. 超寬頻毫米波量產測試解決方案 / 稜研科技
*展示主題依場次有所不同，以活動現場展示內容為主
隨著 chatGPT 帶領生成式 AI 時代來臨，與 AI 應用結合已經變成各個行業不可或缺的一部分，自動化測試與量測也不例外。本演講我們將探討 LabVIEW 與測試量測硬體之 AI 結合新應用。
我們將介紹 LabVIEW 今年的新功能，並展示如何通過 LabVIEW+ 軟體組合，構建智慧測試流程，並且闡述 LabVIEW 與 AI 新趨勢的結合。這些工具的結合將顯著提升測試效率、測試開發時間與資料處理能力，實現更高的量測效能。
演講中，我們將進行實際演示，包括 LabVIEW 新功能、AI 結合展示以及第三方 AI Vision 工具包在測試中的應用。相信這些創新技術將為您的自動化量測應用帶來革命性的變革，期待各位的參與和交流。
隨著消費性電子與半導體技術更迭日新月異，對於測試的通道數/速度/整合性的要求也日漸增加，讓傳統測試平台與技術面臨全新挑戰，需要更智慧的量測系統。
NI 推出全新測試量測硬體平台，更高精度、更易使用、更小體積，助力使用者開發自動化量測系統。搭配現有的 DAQ & PXI 平台，不論是高通道數/高速/高精度/整合的測試系統皆可輕鬆完成。
本演講除了新產品與平台的介紹，更會展示配合的新軟體 InstrumentStudio & Flexlogger，讓使用者可以體驗全新互動式量測方式，不用寫程式就能輕鬆完成自動化設定與量測，一鍵紀錄量測結果。
近幾年人工智慧蓬勃發展，這波強勁的需求，直接推動了半導體、電動車、國防航太、防災及製造產業的發展。迎接這一波挑戰，除了加緊開發新方案應對之外，對既有系統進行改進、擴充跟智慧化升級，也變成一個很迫切的課題。本演講將快速介紹 FPGA 原理及可以運用的 RIO 工具，再從各個應用案例切入進行優勢的剖析，最後介紹 FPGA 客製化方案及評估方法。期待能帶給大家不同的系統性思考方式。
PC based 機台漸成主流，帶動工業控制機台的軟硬體進一步整合，Low Code/No code 成為機器視覺開發的重要方向。
本演講精彩內容帶您瞭解互動式可視化/自動化影像處理與分析工具，並一鍵轉換生成完整 LabVIWE / C 程式原始碼。藉由 NI Vision與自動化控制技術結合，可輕易實踐影像擷取/影像讀存/影像處理/影像分析計算，與整合其他自動化儀器量測與控制方法，讓自動化工業機台檢測與量測變得更加容易。
NI 身為軟體為核心的測試與量測公司，藉由主要的軟體平台 LabVIEW 與其他軟硬體的結合，打造新世代的測試與量測系統。藉由廣泛的生態系夥伴的支援與合作，讓使用者能夠更迅速上手並整合至不同的自動化測試與量測應用。
隨著6G R19於2024年開始進行規劃，需求與技術即將開始熱烈討論。本演講將闡述頻寬、頻段、覆蓋、低延遲等特性之創新，以及6G & 非地面通訊技術的應用。同時，我們也將探討在測試過程中可能遭遇的挑戰，以及NI相關解決方案，讓您深入了解未來行動通訊的趨勢與發展方向。