ENET - 優立測科技

精彩實機展示

1. NI 最新 USB 多功能資料擷取平台 / 優立測科技
2. 高彈性模組化 PCB 測試儀器: NI TestScale / 優立測科技
3. GECO 控制器及支援模組 / 星協系統科技
4. 盲聲源定位系統 / 翔和科技
5. 超寬頻毫米波量產測試解決方案 / 稜研科技

*展示主題依場次有所不同，以活動現場展示內容為主

LabVIEW 與最新 NI 測試量測硬體結合 AI 新趨勢，探索全新自動化量測願景

隨著 chatGPT 帶領生成式 AI 時代來臨，與 AI 應用結合已經變成各個行業不可或缺的一部分，自動化測試與量測也不例外。本演講我們將探討 LabVIEW 與測試量測硬體之 AI 結合新應用。

我們將介紹 LabVIEW 今年的新功能，並展示如何通過 LabVIEW+ 軟體組合，構建智慧測試流程，並且闡述 LabVIEW 與 AI 新趨勢的結合。這些工具的結合將顯著提升測試效率、測試開發時間與資料處理能力，實現更高的量測效能。

演講中，我們將進行實際演示，包括 LabVIEW 新功能、AI 結合展示以及第三方 AI Vision 工具包在測試中的應用。相信這些創新技術將為您的自動化量測應用帶來革命性的變革，期待各位的參與和交流。

最新 NI 硬體產品，助您打造零程式開發建構高通道數/高速/高精度/多功能整合之自動化量測系統

隨著消費性電子與半導體技術更迭日新月異，對於測試的通道數/速度/整合性的要求也日漸增加，讓傳統測試平台與技術面臨全新挑戰，需要更智慧的量測系統。

NI 推出全新測試量測硬體平台，更高精度、更易使用、更小體積，助力使用者開發自動化量測系統。搭配現有的 DAQ & PXI 平台，不論是高通道數/高速/高精度/整合的測試系統皆可輕鬆完成。

本演講除了新產品與平台的介紹，更會展示配合的新軟體 InstrumentStudio & Flexlogger，讓使用者可以體驗全新互動式量測方式，不用寫程式就能輕鬆完成自動化設定與量測，一鍵紀錄量測結果。

利用 LabVIEW FPGA 技術及 RIO 平台，對既有系統進行改進、擴充或智慧化升級

近幾年人工智慧蓬勃發展，這波強勁的需求，直接推動了半導體、電動車、國防航太、防災及製造產業的發展。迎接這一波挑戰，除了加緊開發新方案應對之外，對既有系統進行改進、擴充跟智慧化升級，也變成一個很迫切的課題。本演講將快速介紹 FPGA 原理及可以運用的 RIO 工具，再從各個應用案例切入進行優勢的剖析，最後介紹 FPGA 客製化方案及評估方法。期待能帶給大家不同的系統性思考方式。

運用 Low Code/No Code 開發進行自動化影像分析與工業嵌入式控制

PC based 機台漸成主流，帶動工業控制機台的軟硬體進一步整合，Low Code/No code 成為機器視覺開發的重要方向。

本演講精彩內容帶您瞭解互動式可視化/自動化影像處理與分析工具，並一鍵轉換生成完整 LabVIWE / C 程式原始碼。藉由 NI Vision與自動化控制技術結合，可輕易實踐影像擷取/影像讀存/影像處理/影像分析計算，與整合其他自動化儀器量測與控制方法，讓自動化工業機台檢測與量測變得更加容易。

NI 軟體平台未來發展策略

NI 身為軟體為核心的測試與量測公司，藉由主要的軟體平台 LabVIEW 與其他軟硬體的結合，打造新世代的測試與量測系統。藉由廣泛的生態系夥伴的支援與合作，讓使用者能夠更迅速上手並整合至不同的自動化測試與量測應用。

剖析最新行動通訊市場應用與挑戰 - 6G & NTN

隨著6G R19於2024年開始進行規劃，需求與技術即將開始熱烈討論。本演講將闡述頻寬、頻段、覆蓋、低延遲等特性之創新，以及6G & 非地面通訊技術的應用。同時，我們也將探討在測試過程中可能遭遇的挑戰，以及NI相關解決方案，讓您深入了解未來行動通訊的趨勢與發展方向。