備受矚目的 「2024 半導體測試創新技術論壇」將於 5/15 新竹豐邑愛因斯坦 3F 國際會議廳登場,立即報名參與這場技術盛宴

2024 半導體測試創新技術論壇

Semiconductor Innovation Tech Day

活動資訊

活動內容

隨著數位轉型帶來的各種新興應用,以及半導體技術不斷地更新迭代,為半導體產業帶來前所未有的發展機會,身為半導體產業工程師的您,是協助打造更佳未來的重要推手,我們瞭解到您正面臨到前所未有的測試挑戰。

NI 國家儀器與其台灣代理商優立測科技特別為您打造「2024半導體測試創新技術論壇」,將與您分享最新的半導體技術趨勢,包含 6G、Wi-Fi 7、寬能隙半導體與矽光子,並與您一同探討創新的半導體測試與量測自動化解決方案,為您儲備最新測試新知以解決複雜的半導體技術挑戰。

本次活動包含八場精彩的議程,涵蓋半導體測試領域的精彩關鍵主題,如新世代測試架構、行動通訊市場應用、半導體測試自動化、寬能隙功率半導體可靠度測試等。您將可於在現場實機展示區親身體驗多種半導體測試解決方案。誠摯邀請您加入我們,共享這場技術盛宴!

活動時間/地點

  • 活動時間: 5/15 (三) 9:00AM~16:30PM
  • 活動地點: 新竹豐邑愛因斯坦大樓  3樓國際會議中心 (竹北市自強南路8號3樓)

適合對象

  • 半導體測試工程師、 Quality Assurance 工程師、 研發工程師,與Application Engineer,或對半導體測試趨勢與應用有興趣者皆歡迎參與。

活動議程

Time Content講師
09:00 ~ 09:30報到
09:30 ~ 09:35Welcome & OpeningNI 國家儀器
09:35 ~ 09:50新世代測試架構提升半導體測試效率,加快產品上市時間NI 國家儀器
09:50 ~ 10:40從零開始 - 30分鐘快速建立半導體測試自動化 (以 PMIC 為例)優立測科技
10:40 ~ 11:10剖析最新行動通訊市場應用與挑戰 - 6G & NTN NI 國家儀器
11:10 ~ 11:30中場休息
11:30 ~ 12:10揭密矽光元件特性與光電整合測試思衞科技
12:10 ~ 13:00午餐
13:00 ~ 13:40如何利用 PXI 架構實現 PMIC 測試全覆蓋 NI 國家儀器
13:40 ~ 14:20IC 測試工程開發案例分享: 一鍵完成 ATE 級 DFT 與數位通訊協定驗證的新利器優立測科技
14:20 ~ 14:50中場休息
14:50 ~ 15:30探討寬能隙功率半導體可靠度測試 - 測試規範探討與實踐 NI 國家儀器
15:30 ~ 16:20WiFi-7 無線寬頻通訊測試挑戰解決之道與儀器選擇指南 NI 國家儀器
16:20 ~ 16:30Q & A 與會後交流 NI 國家儀器 / 優立測科技
(主辦單位保有最後修改議程之權利,最終議程將以網站公佈內容為主)

議程詳細介紹

從零開始 - 30分鐘快速建立半導體測試自動化
(以 PMIC 為例)
隨著半導體晶片日益複雜,自動化測試已成為不可或缺的趨勢。對於測試工程師來說,面對少量但多樣的待測物品和複雜多變的測試項目,建立實驗室自動化系統成了當務之急。這場演講以 PMIC 為例,將帶領您從零開始,通過互動式量測,迅速建立半導體自動化測試系統,實現測試全程自動化並生成測試報表。
剖析最新行動通訊市場應用與挑戰 - 6G & NTN
隨著6G R19於2024年開始進行規劃,需求與技術即將開始熱烈討論。本演講將闡述頻寬、頻段、覆蓋、低延遲等特性之創新,以及6G & 非地面通訊技術的應用。同時,我們也將探討在測試過程中可能遭遇的挑戰,以及NI相關解決方案,讓您深入了解未來行動通訊的趨勢與發展方向。
揭密矽光元件特性與光電整合測試
隨著資料中心數據傳輸需求漸增,台灣半導體也領頭帶動矽光子元件的技術發展。本演講將會概述矽光子應用的展望及挑戰,並介紹矽光子主要組成元件,並且分享光電量測系統的解决方案以及案例分享。
如何利用 PXI 架構實現 PMIC 測試全覆蓋
隨著資料中心、伺服器和電動車等應用的普及,對電源應用晶片(PMIC)的需求正在快速增長。產品生命週期的縮短使得 Time-to-Market 的壓力越來越大。本演講將深入介紹 PMIC 測試的主要項目和測試方法,並展示如何利用 NI PXI 架構實現 PMIC 測試的自動化,以大幅縮短產品上市的時間。透過本次演講,您將學會如何有效利用 PXI 架構,實現 PMIC 測試全面覆蓋,以滿足日益嚴格的市場需求。
IC測試工程開發案例分享 I:
實驗室驗證DFT完整方案
NI 桌上型數位測試儀器與搭配之測試工程軟體,可讓工程師在實驗室內進行與量產ATE相同的Pattern收發與驗證,來進行DFT驗證與數位通訊協定驗證。 目前方式大多是由產線工程師在ATE上進行驗證,研發與驗證工程師來做判讀,過程耗時又費力。由於ATE費用昂貴不易取得,所以也拉長了整體偵錯與測試的時間。如果能在實驗室內部署桌上型的測試設備,在Lab驗證與偵錯這些Pattern,效率會大大提升。
NI 合作夥伴孤波的實驗室驗證DFT的整體方案包括Pattern Converter,多數位通道的桌上測試設備,自動偵錯工具等。DFT工程師或者實驗室驗證工程師可以直接在系統上進行DFT驗證,經過驗證的pattern也可以直接輸出成為相應量產的ATE上需要的格式。
IC測試工程開發案例分享 II:
數位通訊協定驗證的新利器
NI 合作夥伴Soliton的數位通訊驗證軟體,具有可擴充性與支援多種通訊協定,包含I2C, I3C, MIPI SPMI, MIPI RFFE, SPI, UART等。能夠一鍵完成數位通訊協定驗證項目,包含通訊、電壓、功能與Fault Test等,幫助工程師能夠迅速完成數位通訊協定驗證。
探討寬能隙功率半導體可靠度測試
- 測試規範探討與實踐
汽車產業正推動寬能隙材料如 SiC 指數般地增長,伴隨而來的是確保品質的測試挑戰。這類的 SiC 和 GaN 器件動態測試(例如 dHTGS、dH3TRB、DRB 或 HTFB) 存在功率半導體行業前所未有的挑戰。 要將這些測試擴展到量產的規模,同時盡可能的在精準的時刻觸發失效機制獲取資料進一步建構模型是存在相當難度的,尤其是如 dHTGS、dH3TRB、DRB 或 HTFB 等這類動態測試的品質控制和激發訊號檢測的可控性。 我們將在此次演講中介紹經行業中驗證的最新動態測試方法來克服上述的挑戰。
WiFi-7 無線寬頻通訊測試挑戰解決之道與儀器選擇指南
無線通訊協定標準日新月異,WiFi 7 的採用 320MHz 頻寬、4096QAM 等技術,預期吞吐量可高達 30Gbps,同時,室內定位技術也讓 UWB 超寬帶技術日益蓬勃發展。本演講將深入探討這些全新寬頻通訊測試的挑戰,包括最新的 DPD 測試需求,並介紹 NI VST3 技術如何助您應對這些測試挑戰,保持您在競爭激烈的市場中的領先地位。
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好禮一:報名論壇並推薦好友出席,推薦人即享 7-11 禮券 200元!
好禮二:全程參與活動並提交會後問卷,即可參加 GoPro 與 HomePod mini 抽獎

 

*推薦人與被推薦人雙方皆出席,推薦人即可於報到處領取 7-11 禮券 200元。(每人限領乙次)
*抽獎獎項將於活動最後一節抽出,獲獎者須在現場,如唱名三次未回應視為棄權
*主辦單位保有隨時修改好禮與抽獎獎品之權利,最終將以網站公佈內容為主
*本場活動採報名審核制,報名成功者將於活動前 3 日收到行前通知信,席次有限,敬請見諒。

本活動報名已經截止,若您有任何疑問或需求,
請您聯繫我們: mkt@ultest-tech.com,謝謝!

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