半導體與電子技術快速發展，測試技術的提升至關重要。NI 國家儀器 、優立測科技攜手 DIGITIMES 舉辦創新測試論壇，匯聚產業專家與技術領袖，探討最新電子測量技術，整合全流程測試自動化數據，掌握產品開發、驗證、量產關鍵環節。
本次論壇將由 NI 全球副總帶來主題演講揭開序幕，接著針對當前市場關注的智能測試創新進行對談探討，特別邀請全球半導體製造龍頭、電子製造巨擘與深耕智能測試軟體領域的產業專家，分享前瞻策略與創新思維，探討 AI 在製造與測試領域的創新應用與實務經驗，勾勒測試技術發展與應用藍圖。
下午的 NI Test Forum 三大主題論壇同樣精彩可期，精心規劃了一系列兼具廣度與深度的豐富議程，涵蓋最新測試軟硬體資訊、先進應用測試主題如矽光子與 HIL，以及多元使用者應用分享，必定讓您滿載而歸。
台積電 處長
戴定普
日月光 測試工程資深處長
黃俊傑
鴻海研究院 AI 所
詹念怡 博士
Sony PS5 (Slim)
數位版主機
一名
Apple AirPods Pro 2
主動式降噪耳機
一名
台北喜來登十二廚
平日雙人自助午餐券
二名
• 凡報名且全程參與活動者，即可參與好禮抽獎環節。
7-11 電子禮券 200 元
• 推薦人與被推薦人皆通過報名審核並出席活動，每人可兌換 7-11 200 元電子禮券乙份。
• 推薦人須非為 NI 國家儀器、優立測科技、DIGITIMES、本活動相關贊助商、NI 經銷夥伴員工。
• 每人限領乙次，領取方式、時間另行公告。
1. 本活動報名截止日為4月7日(一)。主辦單位將視報名狀況提前或延後線上報名時間。
2. 本活動採報名審核制，將由主辦單位進行出席資格審核，與主題及屬性符合者為優先考量。
3. 通過審核者，系統將於活動前以電子郵件方式寄報到通知信到您的電子信箱，以示您的出席資格，未通過審核者，亦會收到一封婉拒通知信。
4. 活動當日，請攜帶含有報到編號/QR Code的「報到通知」至活動現場完成報到手續。
5. 凡參加本次活動所舉辦之贈品或抽獎，因有登錄資料不實或冒用他人身份，主辦單位有權取消其得獎資格。
6. 主辦單位保留修改本活動規則之權利，毋須另行作出解釋或通知。
7. 若因不可預測之突發因素，主辦單位得保留研討會課程及講師之變更權利。
8. 本次活動若適逢天災(地震、颱風等)不可抗拒之因素，將延期舉辦，時間另行通知。
9. 如對於本活動有任何疑問，請來信洽詢：mkt@ultest-tech.com。
